技術文章
您現在的位置:首頁 > 技術文章> 談談影響膜厚計測量的因素

談談影響膜厚計測量的因素點擊次數:69 發布時間:2021-10-13

  今天小編給大家講講影響膜厚計測量的因素:
 
  1.磁厚度測量受基體金屬磁變化的影響(在實際應用中,低碳鋼的磁變化可以認為很小)。為了避免熱處理和冷加工因素的影響,儀器應使用與測試件的基體金屬具有相同性能的標準件進行校準。待涂覆的試件也可用于校準。
 
  2.基體金屬的電學性質:基體金屬的電導率影響測量,而基體金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。用與測試件的基體金屬具有相同特性的標準件校準儀器。
 
  3.基體金屬厚度:每種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。超過這個厚度,測量不受基體金屬厚度的影響。
 
  4.邊緣效應:這種儀器對樣品表面形狀的突然變化很敏感。因此,在樣本的邊緣或內角附近進行測量是不可靠的。
 
  5.曲率:試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而明顯增大。因此,彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
 
  6.試樣變形:
 
  7.表面粗糙度:基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加,影響增加。粗糙的表面會導致系統誤差和意外誤差。在每次測量期間,應增加不同位置的測量次數,以克服此類意外誤差。
 
  8.磁場:各種周圍電氣設備產生的強磁場會嚴重干擾磁法測厚。
 
  9.附著物質
 
  10.探頭測時壓力
 
  11.膜厚計探頭方向:探頭的位置會影響測量。測量時,探頭應保持垂直于樣品表面。
公司名稱:上海冠唯儀器有限公司 地址:江蘇昆山經濟開發區前進東路289號1503室 郵 編:201805
ICP備:滬ICP備11031783號-1 GoogleSitemap
倪經理
點擊這里給我發消息
李經理
點擊這里給我發消息
王經理
點擊這里給我發消息
技術支持
點擊這里給我發消息
 

化工儀器網

推薦收藏該企業網站
人人妻人人做人人爽_亚洲国产日韩a在线欧美2020_日韩av人妻无码一区二区三区免费_日本三级带日本三级带黄