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談談影響膜厚計測量的因素點擊次數：69 發布時間：2021-10-13
今天小編給大家講講影響膜厚計測量的因素：
1.磁厚度測量受基體金屬磁變化的影響(在實際應用中，低碳鋼的磁變化可以認為很小)。為了避免熱處理和冷加工因素的影響，儀器應使用與測試件的基體金屬具有相同性能的標準件進行校準。待涂覆的試件也可用于校準。
2.基體金屬的電學性質：基體金屬的電導率影響測量，而基體金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。用與測試件的基體金屬具有相同特性的標準件校準儀器。
3.基體金屬厚度：每種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。超過這個厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。
4.邊緣效應：這種儀器對樣品表面形狀的突然變化很敏感。因此，在樣本的邊緣或內角附近進行測量是不可靠的。
5.曲率：試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而明顯增大。因此，彎曲試樣表面的測量是不可靠的。
6.試樣變形：
7.表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增加，影響增加。粗糙的表面會導致系統誤差和意外誤差。在每次測量期間，應增加不同位置的測量次數，以克服此類意外誤差。
8.磁場：各種周圍電氣設備產生的強磁場會嚴重干擾磁法測厚。
9.附著物質
10.探頭測時壓力
11.膜厚計探頭方向：探頭的位置會影響測量。測量時，探頭應保持垂直于樣品表面。
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